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■ ID
| 1147 |
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■ 種類
| 論文 |
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■ タイトル
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Expansion of the dynamic range of statistical interferometry and its application to extremely short- to long- term plant growth monitoring |
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■ 著者
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Kohichi Kobayashi
埼玉大学大学院
Hirofumi Kadono
埼玉県環境科学国際センター
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■ 出版元
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■ 出版年
| 2010 |
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■ 誌名・巻・号・年
| Applied Optics, Vol.49, No.32, 6333-6339, 2010 |
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■ 抄録・要旨
| 統計干渉法は粗表面物体にも適用できる極めて精確な干渉測定技術である。この方法は十分に発達したスペックル場の統計的安定性を基にしており、これまでに植物の成長測定を可能にした。しかし、物体の膨張現象における測定可能範囲は、用いた光の波長によって制限される。そのため測定精度を変えずに測定範囲を300μmまで拡大させ、ダイナミックレンジの改善を実験的に検証した。またこの改良型システムを用いて、いくつかの環境条件下におけるサブナノメータから数百マイクロメータレベルの植物成長モニタリングに適用した。この方法は、植物や農業の研究に対し特に有効である。
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